КЛЮЧЕВЫЕ ПАРТНЕРЫ ВЫСТАВОЧНОЙ ПРОГРАММЫ ФОРУМА:

сканирующий зондовый микроскоп SmartSPM


Сканирующий зондовый микроскоп SmartSPM№ по Госреестру: 39221-08
Страна производитель: Россия

 
 

Назначение и область применения

сканирующий зондовый микроскоп SmartSPM

Преимущества

  1. Полностью автоматизированный СЗМ позволяет производить автоматическую настройку прибора перед началом измерений.
  2. Высокоскоростной 100 мкм сканер (резонансные частоты сканера больше, чем 7 кГц по XY & 15 кГц по Z), емкостные датчики, обеспечивающие высокую линейность и точное позиционирование.
  3. Регистрирующая система с ИК лазером с длиной волны 1300 нм позволяет измерять широкий диапазон образцов с высоким разрешением, включая образцы чувствительные к видимому свету. С таким лазером пользователь может проводить измерения флуоресценции или рамановского излучения одновременно с АСМ сканированием без перекрестных помех.
  4. Прямой и боковой оптический доступ.
  5. Улучшенный контроль обратной связи с активным устранением отставания по фазе по XY, перескоков и «звона» сканера при быстром сканировании без динамического искажения изображения.
  6. Режим True Non-contact и специальная процедура для безопасного подвода зонда к образцу.
  7. Цифровой модульный контроллер с быстрым DSP, USB интерфейсом и возможностью расширения функциональности.

Автоматизация

  • автоматическая настройка регистрирующей системы SmartSPM освобождает пользователя от рутинных операций, а также обеспечивает повторяемость настройки вне зависимости от его опыта;
  • SmartSPM предоставляет возможность выбора оптимального места наведения регистрирующего лазера, а также возможность тестирования отражающей поверхности кантилевера перед началом измерений;
  • моторизация позиционирования образца в горизонтальной плоскости позволяет пользователю легко находить область, в которой необходимо производить сканирование;
  • в автоматическом режиме пользователю необходимо лишь указать основные параметры зонда и поле сканирования для того, чтобы SmartSPM произвел полную настройку системы, подвел зонд к поверхности образца и начал сканирование;
  • минимальное время обучения, а также возможность быстрого старта измерений (меньше, чем за 5 минут!) делает SmartSPM идеальным решением для университетов, где прибор используется в многопользовательском режиме;
  • благодаря встроенному в программное обеспечение языку программирования Lua, пользователь имеет возможность адаптировать прибор под свои специфические задачи, а также организовать серию автоматизированных измерений в различных точках поверхности образца;
  • встроенный макроязык для программирования DSP позволяет создавать собственные алгоритмы сканирования, снятия силовых кривых, а также процедуры нанолитографии.

Оптический доступ к образцу

  • SmartSPM позволяет использовать оптическую систему в вертикальном положении с объективом 100х, числовой апертурой 0.7 , а в положении под углом с объективом 20х, числовой апертурой 0.42;
  • наличие оптического доступа к образцу не только сверху, но и сбоку позволяет воздействовать на образец лазером с заданной поляризацией и собирать рассеянный свет с поверхности образца, что особенно важно для проведения ГКР/TERS экспериментов.

Высокоскоростной сканер 100х100х15 мкм

  • сверхвысокое разрешение, вплоть до атомарного, на 100 мкм сканере;
  • резонансные частоты сканера более 7 кГц обеспечивают высокую скорость сканирования, устойчивость к вибрациям и акустическим шумам;
  • современная система сканирования SmartSPM, основанная на гибких направляющих с применением высококачественных монолитных пьезопакетов, обладает метрологическими свойствами: нелинейность по XY < 0.03%, по Z < 0.1%;
  • термокомпенсация сканера обеспечивает получение низких тепловых дрейфов.

Основные технические характеристики

Прибор: сканирующий зондовый микроскоп SmartSPM

Методики измерений:

  • контактная, полуконтактная и бесконтактная атомно-силовая микроскопия (АСМ);
  • АСМ латеральных сил;
  • АСМ токов растекания (три программно переключаемых диапазона от 10 пА до 100 мкА);
  • АСМ зонда Кельвина (с разрешением не хуже 3 мВ);
  • магнитно-силовая микроскопия (с латеральным разрешением не хуже 70 нм);
  • электро-силовая микроскопия (с разрешением не хуже 5 мВ);
  • сканирующая емкостная микроскопия;
  • измерение силовых кривых;
  • измерение вольт-амперных характеристик;
  • нанолитография;
  • наноманипуляции.

Параметры измерительной головки АСМ:

  • возможность измерения образца до 40 х 40 мм в поперечнике и до 15 мм в высоту;
  • оптический доступ: возможность одновременной установки объективов (планапохроматов) сверху (с числовой апертурой 0.28) и сбоку (с числовой апертурой 0.42);
  • свободный доступ к зонду АСМ для возможности подвода дополнительных внешних зондов;
  • длина волны лазера: 1300 нм;
  • шум регистрирующей системы: 0.03 нм;
  • полностью моторизованное автоматизированное позиционирование зонда и фотодиода;
  • разрешение настройки зонда: 1 мкм;
  • автоматизированная настройка лазера и фотодиода программным методом;
  • смена зонда не приводит к его смещению после настройки регистрирующей системы более чем на ±10мкм вне зависимости от длины кантилевера.

Параметры сканера:

  • XYZ сканер на гибких направляющих с ёмкостными датчиками положения;
  • диапазон сканирования по осям XY: 100 мкм, по оси Z: 15 мкм;
  • нелинейность по осям XY: не более 0.03%, по оси Z: не более 0.04%;
  • максимальная масса образца: 100 г.;
  • ненагруженная резонансная частота по осям XY: 7 кГц при диапазоне сканирования 100 мкм;
  • ненагруженная резонансная частота по оси Z: 15 кГц при диапазоне сканирования 15 мкм;
  • активное устранение задержки по фазе по осям XY при различных скоростях сканирования;
  • отсутствие переколебаний по быстрому направлению сканирования;
  • цифровая фильтрация резонансных частот сканера при управляющих напряжениях (для уменьшения времени стабилизации по оси Z).

Параметры базы:

  • моторизованное позиционирование образца по осям XY;
  • диапазон позиционирования образца: 5 мм по каждой из осей XY;
  • точность позиционирования: 1 мкм;
  • имеется система автоматизированного безопасного подвода зонда к образцу, которая позволяет предотвратить повреждение зонда при подводе.

Параметры оптической системы:

  • система обеспечивает возможность наблюдения за положением кантилевера и образца;
  • в системе присутствуют микроскоп и CCD камера с S-Video выходом, разрешение 752×564 пикселя, чересстрочная развертка 50 Гц.

Параметры рекомендуемой системы активной виброзащиты:

  • диапазон активной виброзащиты: от 1 Гц до 200 Гц;
  • максимальная допустимая нагрузка: 7 кг.

Параметры контроллера:

  • цифровой, модульный, расширяемый контроллер;
  • цифровая обратная связь по всем трем осям X,Y,Z;
  • связь с ПК по интерфейсу USB 2.0;
  • возможность одновременного управления 7-ю шаговыми двигателями с возможностью наращивания;
  • цифровые входы-выходы для подключения внешних устройств;
  • аналоговые входы-выходы для подключения внешних устройств;
  • температурный контроллер (опционально).

Параметры жидкостной ячейки:

  • габариты 40х40х12мм;
  • размер образца до 2 мм высотой и до 25 мм в диаметре;
  • нагрев до температуры 60°С;
  • точность поддержания температуры 0,01°С;
  • диапазон позиционирования образца: 1.5 мм по каждой из осей XY;
  • точность позиционирования: 1 мкм;
  • возможность конфигурации как для работы с протоком жидкости, так и без него;
  • детали ячейки допускают автоклавирование и ультразвуковую мойку.

Параметры рекомендуемого персонального компьютера (ПК). ПК с двухядерным процессором, тактовой частотой 2.2 ГГц, оперативной памятью 2 Гб, видеокартой с внутренней памятью 256 Мб, жестким диском с емкостью 750 Гб, мультиформатным приводом ДВД, ЛСД монитором 19 дюймов.

Функциональность программного обеспечения для работы с АСМ

  1. Функция автоматической настройки регистрирующей системы;
  2. Функция автоматического конфигурирования и предустановки стандартных измерительных методик;
  3. Функция автоматического поиска резонансной частоты кантилевера;
  4. Возможность работы с силовыми кривыми;
  5. Макроязык Lua для создания пользовательских функций, скриптов и элементов интерфейса;
  6. Возможность программировать средствами макроязыка DSP контроллера в режиме реального времени;
  7. Возможность обработки изображений в координатной области, включая построения сечений, фитирование, полиномиальное сглаживание вплоть до 8-го порядка;
  8. Возможность обработки изображений в частотной области, включая фильтрацию и анализ спектров;
  9. Функция быстрого преобразования Фурье (БПФ);
  10. Функция конволюции и деконволюции изображений;
  11. Поддержка режимов нанолитографии и наноманипуляций;
  12. Работа с изображениями размером до 5000×5000 пикселей.

ваш e-mail:

сообщение:


Яндекс.Метрика

Language

Rus Eng

При поддержке

Содействие

Информподдержка

Генеральный информационный партнер: