Новости
16.04.2024
Перенос выставки «MetrolExpo-2024» на осенний период...
11.03.2024
Спешите подать заявку на участие в MetrolExpo-2024...
05.02.2024
Изменены сроки и место проведения MetrolExpo-2024...
сканирующий зондовый микроскоп SmartSPM
№ по Госреестру: 39221-08
Страна производитель: Россия |
Назначение и область применения
сканирующий зондовый микроскоп SmartSPM
Преимущества
- Полностью автоматизированный СЗМ позволяет производить автоматическую настройку прибора перед началом измерений.
- Высокоскоростной 100 мкм сканер (резонансные частоты сканера больше, чем 7 кГц по XY & 15 кГц по Z), емкостные датчики, обеспечивающие высокую линейность и точное позиционирование.
- Регистрирующая система с ИК лазером с длиной волны 1300 нм позволяет измерять широкий диапазон образцов с высоким разрешением, включая образцы чувствительные к видимому свету. С таким лазером пользователь может проводить измерения флуоресценции или рамановского излучения одновременно с АСМ сканированием без перекрестных помех.
- Прямой и боковой оптический доступ.
- Улучшенный контроль обратной связи с активным устранением отставания по фазе по XY, перескоков и «звона» сканера при быстром сканировании без динамического искажения изображения.
- Режим True Non-contact и специальная процедура для безопасного подвода зонда к образцу.
- Цифровой модульный контроллер с быстрым DSP, USB интерфейсом и возможностью расширения функциональности.
Автоматизация
- автоматическая настройка регистрирующей системы SmartSPM освобождает пользователя от рутинных операций, а также обеспечивает повторяемость настройки вне зависимости от его опыта;
- SmartSPM предоставляет возможность выбора оптимального места наведения регистрирующего лазера, а также возможность тестирования отражающей поверхности кантилевера перед началом измерений;
- моторизация позиционирования образца в горизонтальной плоскости позволяет пользователю легко находить область, в которой необходимо производить сканирование;
- в автоматическом режиме пользователю необходимо лишь указать основные параметры зонда и поле сканирования для того, чтобы SmartSPM произвел полную настройку системы, подвел зонд к поверхности образца и начал сканирование;
- минимальное время обучения, а также возможность быстрого старта измерений (меньше, чем за 5 минут!) делает SmartSPM идеальным решением для университетов, где прибор используется в многопользовательском режиме;
- благодаря встроенному в программное обеспечение языку программирования Lua, пользователь имеет возможность адаптировать прибор под свои специфические задачи, а также организовать серию автоматизированных измерений в различных точках поверхности образца;
- встроенный макроязык для программирования DSP позволяет создавать собственные алгоритмы сканирования, снятия силовых кривых, а также процедуры нанолитографии.
Оптический доступ к образцу
- SmartSPM позволяет использовать оптическую систему в вертикальном положении с объективом 100х, числовой апертурой 0.7 , а в положении под углом с объективом 20х, числовой апертурой 0.42;
- наличие оптического доступа к образцу не только сверху, но и сбоку позволяет воздействовать на образец лазером с заданной поляризацией и собирать рассеянный свет с поверхности образца, что особенно важно для проведения ГКР/TERS экспериментов.
Высокоскоростной сканер 100х100х15 мкм
-
сверхвысокое разрешение, вплоть до атомарного, на 100 мкм сканере;
-
резонансные частоты сканера более 7 кГц обеспечивают высокую скорость сканирования, устойчивость к вибрациям и акустическим шумам;
-
современная система сканирования SmartSPM, основанная на гибких направляющих с применением высококачественных монолитных пьезопакетов, обладает метрологическими свойствами: нелинейность по XY < 0.03%, по Z < 0.1%;
-
термокомпенсация сканера обеспечивает получение низких тепловых дрейфов.
Основные технические характеристики
Методики измерений:
- контактная, полуконтактная и бесконтактная атомно-силовая микроскопия (АСМ);
- АСМ латеральных сил;
- АСМ токов растекания (три программно переключаемых диапазона от 10 пА до 100 мкА);
- АСМ зонда Кельвина (с разрешением не хуже 3 мВ);
- магнитно-силовая микроскопия (с латеральным разрешением не хуже 70 нм);
- электро-силовая микроскопия (с разрешением не хуже 5 мВ);
- сканирующая емкостная микроскопия;
- измерение силовых кривых;
- измерение вольт-амперных характеристик;
- нанолитография;
- наноманипуляции.
Параметры измерительной головки АСМ:
- возможность измерения образца до 40 х 40 мм в поперечнике и до 15 мм в высоту;
- оптический доступ: возможность одновременной установки объективов (планапохроматов) сверху (с числовой апертурой 0.28) и сбоку (с числовой апертурой 0.42);
- свободный доступ к зонду АСМ для возможности подвода дополнительных внешних зондов;
- длина волны лазера: 1300 нм;
- шум регистрирующей системы: 0.03 нм;
- полностью моторизованное автоматизированное позиционирование зонда и фотодиода;
- разрешение настройки зонда: 1 мкм;
- автоматизированная настройка лазера и фотодиода программным методом;
- смена зонда не приводит к его смещению после настройки регистрирующей системы более чем на ±10мкм вне зависимости от длины кантилевера.
Параметры сканера:
- XYZ сканер на гибких направляющих с ёмкостными датчиками положения;
- диапазон сканирования по осям XY: 100 мкм, по оси Z: 15 мкм;
- нелинейность по осям XY: не более 0.03%, по оси Z: не более 0.04%;
- максимальная масса образца: 100 г.;
- ненагруженная резонансная частота по осям XY: 7 кГц при диапазоне сканирования 100 мкм;
- ненагруженная резонансная частота по оси Z: 15 кГц при диапазоне сканирования 15 мкм;
- активное устранение задержки по фазе по осям XY при различных скоростях сканирования;
- отсутствие переколебаний по быстрому направлению сканирования;
- цифровая фильтрация резонансных частот сканера при управляющих напряжениях (для уменьшения времени стабилизации по оси Z).
Параметры базы:
- моторизованное позиционирование образца по осям XY;
- диапазон позиционирования образца: 5 мм по каждой из осей XY;
- точность позиционирования: 1 мкм;
- имеется система автоматизированного безопасного подвода зонда к образцу, которая позволяет предотвратить повреждение зонда при подводе.
Параметры оптической системы:
- система обеспечивает возможность наблюдения за положением кантилевера и образца;
- в системе присутствуют микроскоп и CCD камера с S-Video выходом, разрешение 752×564 пикселя, чересстрочная развертка 50 Гц.
Параметры рекомендуемой системы активной виброзащиты:
- диапазон активной виброзащиты: от 1 Гц до 200 Гц;
- максимальная допустимая нагрузка: 7 кг.
Параметры контроллера:
- цифровой, модульный, расширяемый контроллер;
- цифровая обратная связь по всем трем осям X,Y,Z;
- связь с ПК по интерфейсу USB 2.0;
- возможность одновременного управления 7-ю шаговыми двигателями с возможностью наращивания;
- цифровые входы-выходы для подключения внешних устройств;
- аналоговые входы-выходы для подключения внешних устройств;
- температурный контроллер (опционально).
Параметры жидкостной ячейки:
- габариты 40х40х12мм;
- размер образца до 2 мм высотой и до 25 мм в диаметре;
- нагрев до температуры 60°С;
- точность поддержания температуры 0,01°С;
- диапазон позиционирования образца: 1.5 мм по каждой из осей XY;
- точность позиционирования: 1 мкм;
- возможность конфигурации как для работы с протоком жидкости, так и без него;
- детали ячейки допускают автоклавирование и ультразвуковую мойку.
Параметры рекомендуемого персонального компьютера (ПК). ПК с двухядерным процессором, тактовой частотой 2.2 ГГц, оперативной памятью 2 Гб, видеокартой с внутренней памятью 256 Мб, жестким диском с емкостью 750 Гб, мультиформатным приводом ДВД, ЛСД монитором 19 дюймов.
Функциональность программного обеспечения для работы с АСМ
- Функция автоматической настройки регистрирующей системы;
- Функция автоматического конфигурирования и предустановки стандартных измерительных методик;
- Функция автоматического поиска резонансной частоты кантилевера;
- Возможность работы с силовыми кривыми;
- Макроязык Lua для создания пользовательских функций, скриптов и элементов интерфейса;
- Возможность программировать средствами макроязыка DSP контроллера в режиме реального времени;
- Возможность обработки изображений в координатной области, включая построения сечений, фитирование, полиномиальное сглаживание вплоть до 8-го порядка;
- Возможность обработки изображений в частотной области, включая фильтрацию и анализ спектров;
- Функция быстрого преобразования Фурье (БПФ);
- Функция конволюции и деконволюции изображений;
- Поддержка режимов нанолитографии и наноманипуляций;
- Работа с изображениями размером до 5000×5000 пикселей.